| 213 | == 1.5.3 Influence de la durée du front == |
| 214 | |
| 215 | En conservant la largeur de transistor P trouvée, mesurer ''TPLH'' et ''TPHL'' en faisant varier la valeur de la durée du front de 0.1 ns à 5 ns. |
| 216 | Tracer l'évolution de ''TPLH'' et de ''TPHL'' en fonction de la durée du front. |
| 217 | Donner vos conclusions. |
| 218 | |
| 219 | == 1.5.4 Influence de la température == |
| 220 | |
| 221 | Mesurer ''TPLH'' et ''TPHL'' en faisant varier la valeur de la température de 0 à 140°C. |
| 222 | Tracer l'évolution de ''TPLH'' et de ''TPHL'' en fonction de la température. |
| 223 | Donner vos conclusions. |
| 224 | |
| 225 | == 1.5.5 Influence de la tension d'alimentation == |
| 226 | |
| 227 | Mesurer ''TPLH'' et ''TPHL'' en faisant varier la valeur de la tension d'alimentation de 2 volts à 4 volts. |
| 228 | Tracer l'évolution de ''TPLH'' et de ''TPHL'' en fonction de la tension d'alimentation. |
| 229 | Donner vos conclusions. |
| 230 | |
| 231 | == 1.5.6 Influence des Paramètres technologiques == |
| 232 | |
| 233 | Mesurer TPLH et TPHL en changeant le fichier de paramètres dans la directive d'inclusion, de façon à étudier l'inuence de la dispersion des paramètres du procédé de fabrication : ''worst case'', ''typic'',''best case''. |