La spécification du circuit sr-latch (avec nor) et son implémentation en portes logiques sont données ci-dessous. On note que les figures sont tirées de wikipédia [Wiki].
Dans le tableau présenté ci-dessous, nous présentons l'ensemble des descriptions d'entrée sortie de l'outil VHDL2TA employées dans les tests effectués sur le circuit
SR-latch1. Les détails des tests sont donnés dans exp-SR-latch1.
Tests | VHDL | Délais | Env | HyTech | IMITATOR-2 | UPPAAL | Propriétés TCTL |
---|---|---|---|---|---|---|---|
test 1 | SR-latch1.vhd | SR-latch1.temp | SR-latch1.env | SR-latch1.hy | SR-latch1.imi | SR-latch1.ta | SR-latch1.q |
A titre d'exemple, les descriptions en UPPAAL, en HyTech et en IMITATOR-2 dans ce test sont générées en utilisant, respectivement, les commandes présentées ci-dessous :
vhdl2ta sr_latch.vhd -e env1.env -t delay.temp 2 -m ta -o sr_latch.ta -taf upl
vhdl2ta sr_latch.vhd -e env1.env -t delay.temp 2 -m ta -o sr_latch.hy -taf hy
vhdl2ta sr_latch.vhd -e env1.env -t delay.temp 2 -m ta -o sr_latch.imi -taf imi2
Le tableau mentionné ci-dessous récapitule :
les résultats de model-checking des propriétés TCTL sur le modèle généré décrit en UPPAAL, en utilisant le model-checker d'UPPAAL.
l'analyse d'accessibilité en utilisant l'outil d'analyse HyTech sur le modèle décrit dans le langage de description de cet outil.
l'analyse d'accessibilité en utilisant l'outil de synthèse paramétrée IMITATOR-2 sur le modèle décrit dans le langage de description de cet outil, ainsi le format graphique du graphe d'atteignabilité (graphe de régions) produit par IMITATOR-2.
Tests | Model-checking TCTL | analyse avec HyTech | analyse avec IMITATOR-2 | graphe accessibilité |
---|---|---|---|---|
test 1 | MC-TCTL-1 | RA-HY-1 | RA-IMI2-1 | Graphe-Region-1 |
L'analyse avec HyTech et l'analyse avec IMITATOR-2 dans ce test ont été effectués en utilisant, respectivement, les commandes présentées ci-dessous :
verifyta sr_latch.ta query.q
hytech sr_latch.hy
IMITATOR sr_latch.imi -mode reachability
http://en.wikipedia.org/wiki/Flip-flop_(electronics) |