Conception en vue du test (DFT)

Transparents des cours (téléchargeables en format .pdf)

• Cours1: Conception en vue du test, Généralités​
• Cours2: ATPG, Principe et Généralités​
• Cours2_bis: Compléments Algorithme D​

• Cours3: Techniques de conception en vue du test​
• Cours4: Test Intégré: BIST​
• Cours4_Bis: Compléments_BIST​

Travaux Pratiques

• INTRO: Tutorial sur Tetramax​
• TP1: Test structurel d'un circuit combinatoire avec Tetramax​
• TP2: Test structurel des circuits séquentiels avec Tetramax ​
• TP3-4: Conception d'architecture autotestable​

Annales d'examens (téléchargeables en format .pdf)

(A venir)

Papers

• Pourquoi on utilise des LFSR au lieu des compteurs pour generer les sequences de test ?​